Istaknuta slika eksperimentalnog elipsometra LCP-25

Eksperimentalni elipsometar LCP-25

Kratki opis:

Ručni eliptični polarimetar koristi metodu ekstinkcije za mjerenje debljine i indeksa loma filma, te ručno regulira odstupanje i kut odstupanja testnog procesa.Elipsometrija se široko koristi u mjerenju dielektričnog tankog filma na čvrstoj podlozi.U metodi mjerenja debljine filma može se izmjeriti do najtanje i najveće preciznosti.

Pošaljite nam e-poštu

Pojedinosti o proizvodu

Oznake proizvoda

Tehnički podaci

Opis	Tehnički podaci
Raspon mjerenja debljine	1 nm ~ 300 nm
Raspon upadnog kuta	30º ~ 90º, pogreška ≤ 0,1º
Kut presjeka polarizatora i analizatora	0º ~ 180º
Kutna skala diska	2º po skali
Min.Čitanje Verniera	0,05º
Visina optičkog centra	152 mm
Promjer radne pozornice	Φ 50 mm
Ukupne dimenzije	730x230x290 mm
Težina	Otprilike 20 kg

Popis dijelova

Opis	Kol
Elipsometarska jedinica	1
He-Ne laser	1
Fotoelektrično pojačalo	1
Foto ćelija	1
Silikatni film na silicijskoj podlozi	1
CD sa softverom za analizu	1
Upute za uporabu	1