Istaknuta slika eksperimentalnog elipsometra LCP-25

Eksperimentalni elipsometar LCP-25

Kratki opis:

Ručni eliptični polarimetar koristi metodu ekstinkcije za mjerenje debljine i indeksa loma filma te ručno regulira odstupanje i kut odstupanja tijekom ispitivanja. Elipsometrija se široko koristi u mjerenju tankog dielektričnog filma na čvrstoj podlozi. U metodi mjerenja debljine filma, ona se može mjeriti s najtanjom i najvećom preciznošću.

Pošaljite nam e-poštu

Detalji proizvoda

Oznake proizvoda

Tehnički podaci

Opis	Tehnički podaci
Raspon mjerenja debljine	1 nm ~ 300 nm
Raspon upadnog kuta	30º ~ 90º, pogreška ≤ 0,1º
Kut presjeka polarizatora i analizatora	0º ~ 180º
Kutna skala diska	2º po skali
Minimalno očitavanje Verniera	0,05º
Visina optičkog središta	152 mm
Promjer radne ploče	Φ 50 mm
Ukupne dimenzije	730x230x290 mm
Težina	Otprilike 20 kg

Popis dijelova

Opis	Količina
Elipsometarska jedinica	1
He-Ne laser	1
Fotoelektrično pojačalo	1
Foto ćelija	1
Silicijev film na silicijskoj podlozi	1
CD sa softverom za analizu	1
Upute za uporabu	1