LEEM-3 aparat za mapiranje električnog polja

Kratki opis:

U inženjerskoj tehnologiji često je potrebno poznavati raspodjelu električnog polja sustava elektroda kako bi se proučavao zakon gibanja elektrona ili nabijenih čestica u električnom polju.Na primjer, da bi se proučavalo fokusiranje i skretanje elektronskog snopa u cijevi osciloskopa, potrebno je poznavati raspodjelu električnog polja elektrode u cijevi osciloskopa.U elektronskoj cijevi trebamo proučavati utjecaj uvođenja novih elektroda na kretanje elektrona, a također trebamo poznavati raspodjelu električnog polja.Općenito govoreći, kako bi se saznala distribucija električnog polja, mogu se koristiti analitičke metode i metode simulacijskog eksperimenta.Ali samo u nekoliko jednostavnih slučajeva distribucija električnog polja može se dobiti analitičkom metodom.Za opći ili složeni elektrodni sustav obično se određuje simulacijskim eksperimentom.Nedostatak metode simulacijskog eksperimenta je što preciznost nije visoka, ali za opći inženjerski dizajn može zadovoljiti zahtjeve.