LEEM-3 Aparat za elektrostatičko mapiranje polja

U inženjerskoj tehnologiji često je potrebno znati raspodjelu električnog polja elektronskog sustava kako bi se proučio zakon gibanja elektrona ili nabijenih čestica u električnom polju. Primjerice, da bi se proučilo fokusiranje i skretanje elektronskog snopa u cijevi osciloskopa, potrebno je znati raspodjelu električnog polja elektrode u cijevi osciloskopa. U elektronskoj cijevi moramo proučiti utjecaj uvođenja novih elektroda na kretanje elektrona, a također moramo znati i raspodjelu električnog polja. Općenito govoreći, za utvrđivanje raspodjele električnog polja mogu se koristiti analitička metoda i metoda simulacijskog eksperimenta. Ali samo u nekoliko jednostavnih slučajeva distribucija električnog polja može se dobiti analitičkom metodom. Za opći ili složeni sustav elektroda obično se određuje simulacijskim eksperimentom. Nedostatak metode simulacijskog eksperimenta je što preciznost nije velika, ali za opći inženjerski dizajn može udovoljiti zahtjevima.

Funkcije

1. Naučite proučavati elektrostatička polja pomoću simulacijske metode.

2. Produbiti razumijevanje pojmova snage i potencijala električnih polja.

3. Mapirajte ekvipotencijalne linije i vodove električnog polja uzorci elektroda od koaksijalni kabel i par paralelnih žica.

Tehnički podaci

Popis dijelova