LEEM-3 Uređaj za mapiranje električnog polja

Kratki opis:

U inženjerskoj tehnologiji često je potrebno poznavati raspodjelu električnog polja elektrodnog sustava kako bi se proučio zakon gibanja elektrona ili nabijenih čestica u električnom polju. Na primjer, kako bi se proučilo fokusiranje i otklon elektronskog snopa u osciloskopskoj cijevi, potrebno je poznavati raspodjelu električnog polja elektrode u osciloskopskoj cijevi. U elektronskoj cijevi potrebno je proučavati utjecaj uvođenja novih elektroda na kretanje elektrona, a također trebamo znati raspodjelu električnog polja. Općenito govoreći, kako bi se utvrdila raspodjela električnog polja, mogu se koristiti analitičke metode i metode simulacijskog eksperimenta. Ali samo u nekoliko jednostavnih slučajeva raspodjela električnog polja može se dobiti analitičkom metodom. Za opći ili složeni elektrodni sustav obično se određuje simulacijskim eksperimentom. Nedostatak metode simulacijskog eksperimenta je što preciznost nije visoka, ali za opći inženjerski dizajn može zadovoljiti zahtjeve.